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某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）（单选题）

帮考试4个月前 (07-05)阅读数 4#其它考试

某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）（单选题）
A. 0.01mm
B. 0.02um
C. 0.03um

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